双球差校正透射电子显微镜

DoubleSphericalAberrationCorrectedTransmissionElectronMicroscope

仪器型号：JEM-ARM300F2

生产厂家：日本电子公司

主要技术指标：

1、TEM晶格分辨率：50pm（300kV）

2、TEM信息分辨率：60pm（300kV）；90pm（80kV）

3、STEM信息分辨率：53pm（300kV）；96pm（80kV）

4、EDS元素分析范围：4B至92U；能量分辨率：≤133eV(Mn-Ka)

5、能量过滤分析系统：能量分辨率：优于（<）0.5eV；

应用领域：

1、材料形貌、超高分辨结构解析；2、电子束敏感材料的低损伤表征；3、能谱分析（元素定性/定量）；4、电子能量损失谱（EELS）分析（元素的成分、化学价态与键合信息、电子结构信息等）；5、三维重构；6、原位功能（热电、气热、液电、多场耦合）。